電気電子材料研究室（清家善之教授）に所属する大学院工学研究科博士前期課程2年の鈴木洋陽さんが、10月26～27日に東京で開催された第32回RCJ（一般財団法人日本電子部品信頼性センター）信頼性シンポジウムの席上、奨励賞の表彰を受けました。
RCJ信頼性シンポジウムは、電子デバイスに生じるEOS（過電圧・過電流ストレス）、ESD(静電気障害)、EMI(電磁干渉障害)についての会議です。鈴木さんは、昨年の同シンポジウムで「⼆流体スプレー洗浄時に発⽣する静電気発⽣の要因分析」と題して発表し、奨励賞に選ばれています。
発表内容は、スマートフォンやテレビなどに使われるフラットパネルディスプレーの製造工程で、高圧スプレー洗浄時に生じる静電気障害の原因追究とその対策についてです。この研究は、ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング株式会社と行った本学のプロジェクト共同研究の成果です。
鈴木さんは、「会場で指導していただいた先生方、共同研究先の方々にアドバイスを受け、成果を得ることができました。今後も社会に役立つ研究を行っていきたいです」と抱負を述べています。
右 受賞した鈴木洋陽さん
左 RCJ信頼性シンポジウム 運営委員長 ⽊村 忠正先生
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